您的位置： 首頁 > 產(chǎn)品中心 > 測量儀器 > 輪廓儀 > 布魯克表面輪廓儀Dektak X 探針式臺(tái)階儀

布魯克表面輪廓儀Dektak X 探針式臺(tái)階儀

簡要描述：德國布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率，測量重復(fù)性可以達(dá)到5Å。
布魯克表面輪廓儀Dektak X 探針式臺(tái)階儀

產(chǎn)品型號(hào)：
廠商性質(zhì)：代理商
更新時(shí)間：2022-03-29
訪問量：1155

產(chǎn)品咨詢聯(lián)系我們

產(chǎn)品目錄Product center

測量儀器
- 海思偉創(chuàng)
- Elcometer
- 菲力爾
- Rhopoint
- BINDER
- 易福門
- noiseken
- 德爾格
- 航裕
- 菁華
- 浩儀
- 銥泰
- 勝利
- 固緯
- 安柏
- 凱元
- 美天旎
- 凱基
- Roche
- LabServ
- 賽多利斯
- 愛色麗
- EPK
- QNIX
- 上海現(xiàn)代環(huán)境
- SCBK
- TQC SHEEN
- ETP
- 奧林巴斯
- FUTURE-TECH
- 德圖
- 福祿克
- 格力
- 賓得
- 雅馬拓
- 安東帕
- 梅特勒
- Atlas
- 林上
- 菲希爾
- 建大仁科
- 艾示科
- 慶聲
- 愛斯佩克
- 泰克瑪
- 島津
- 安捷倫
- 日立
- 賽默飛
- 畢克
- 耐馳
- 圖技
- 菊水
- 致茂
- 是德
- 萊特波特
- 安立
- 羅德
- 柯尼卡美能達(dá)
- 臺(tái)碩
- 密度計(jì)
- 測厚儀
- 光澤度
- 色差儀
- 液質(zhì)聯(lián)用儀
- X-Ray
- 正立
- 原子力
- 輪廓儀
- 膜厚儀
- 電鏡
- 光時(shí)域
- 傳感器
- 信號(hào)發(fā)生器
- 分流器
- 皮安計(jì)
- 夾具
- 電容計(jì)
- 網(wǎng)絡(luò)分析
- 電阻表
- 頻率計(jì)數(shù)器
- 綜合測試
- 校準(zhǔn)件
- 電橋
- 測量單元
- 頻譜
- 適配器
- 發(fā)生器
- 測試軟件
- 數(shù)據(jù)采集
- 風(fēng)速
- 溫度表
- 振動(dòng)計(jì)
- 聲學(xué)
- 多通道
- 粘度計(jì)
- 電纜
- 回路
- 頻閃
- 查線儀
- 校驗(yàn)
- 校準(zhǔn)
- 溫濕度
- 相序表
- 鉗形表
- 變送
- 電量表
- 參數(shù)
- 熱像
- 測溫
- 分析儀
- 空氣
- 粒子
- 氣溶膠
- 顆粒
- 煙霧生成器
- 風(fēng)量儀
- 測振儀
- 電阻測試
- 記錄分析儀
- 數(shù)字采集器
查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章Related articles

詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	價(jià)格區(qū)間	5萬-10萬
產(chǎn)品種類	接觸式輪廓儀/粗糙度儀	產(chǎn)地類別	進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

布魯克表面輪廓儀Dektak X 探針式臺(tái)階儀

德國布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率，測量重復(fù)性可以達(dá)到5?。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新，更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，DektakXT能夠做到功能更強(qiáng)大，操作更簡易，檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。

第十代DektakXT臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。

臺(tái)階儀Dektak XT能實(shí)現(xiàn)：

· 突出的性能，臺(tái)階高度重現(xiàn)性低于4埃
· Single-arch設(shè)計(jì)提供具突破性的掃描穩(wěn)定性
· *“智能電子器件"設(shè)立了新低噪音基準(zhǔn)
· 新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時(shí)間縮短40%
· 64-bit，Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件，使數(shù)據(jù)分析速度提高了10倍
· 頻率，操作簡易
· 直觀的Vision64用戶界面，操作簡易
· 針尖自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)
· 布魯克（Bruker）以實(shí)惠的配置實(shí)現(xiàn)高的性能
· 單傳感器設(shè)計(jì)，提供單一平面上低作用和寬掃描范圍

40多年不斷創(chuàng)新

建立在40多年的探針輪廓技術(shù)創(chuàng)新的知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)之上薄膜測試儀，在基于微處理器的輪廓儀，和300mm自動(dòng)輪廓儀DektakXT繼承了以往的。新的DektakXT是首部single-arch設(shè)計(jì)的探針輪廓儀，首部內(nèi)置真彩高清光學(xué)攝像機(jī)，及安裝64-bit并行處理架構(gòu)已獲得測量及操作效率的探針輪廓儀

有超過一萬臺(tái)設(shè)備，品牌Dektak以質(zhì)量、可靠性及著稱。當(dāng)需要臺(tái)階高度、表面粗糙度、可靠測量時(shí)，人們就會(huì)借助Dektak。引進(jìn)DektakXT，Bruker能讓您進(jìn)一步獲得可靠及表面測量

提高數(shù)據(jù)采集和分析速度

利用直接驅(qū)動(dòng)掃描平臺(tái)，Dektak XT減少了掃描間的時(shí)間，而沒有影響分辨率和背景噪聲。這一改進(jìn)大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對(duì)于表面應(yīng)力長程掃描（就探針輪廓儀而言，通常是耗時(shí)的）的掃描速度。在保證行業(yè)的質(zhì)量和重現(xiàn)性前提下，DektakXT可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker64-bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作軟件Vision64，它可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度，并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數(shù)據(jù)分析。Vision64還具有行業(yè)內(nèi)有效的直觀用戶界面，簡化了實(shí)驗(yàn)操作設(shè)置，自動(dòng)完成多掃描模式，讓重復(fù)和常規(guī)的實(shí)驗(yàn)操作變得更快速簡潔。

布魯克表面輪廓儀Dektak X 探針式臺(tái)階儀