簡要描述:通過對有害物質的簡單快速的測量,您可以確保能夠滿足環(huán)境法規(guī)的要求。日立 EA1000AIII 大樣品艙 臺式XRF光譜儀
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日立 EA1000AIII 大樣品艙 臺式XRF光譜儀
通過對有害物質的簡單快速的測量,您可以確保能夠滿足環(huán)境法規(guī)的要求。
操作方便
自動采樣
靈活校準以適應新的RoHS標準
自動突出顯示您正在分析的內容以獲得可瀏覽的結果
快速測量
大樣品艙滿足各種樣品
視聽測量指示器
添加鍍層和元素分析的選項
探測器:硅半導體檢測器(無需液氮)
塑料中Cd、Pb、Hg、Br、Cr的測量時間*:小于70秒
高濃度BrSb塑料中Cd、Pb、Hg、Cr的測量時間*:小于230秒
元素范圍:Al(13)至U(92)
樣品狀態(tài):固體/粉末/液體
測量面積:1 mmφ、3 mmφ、5 mmφ(電動開關)
樣品艙:寬370×深320×高120毫米
過濾器:5個位置
樣品觀察:CCD全彩攝像機
操作:臺式機的筆記本電腦
*注:總測量時間是指達到統(tǒng)計誤差(3西格瑪)所需的時間,Cd為20ppm,其他元素為100ppm(在日立推薦的條件下測量)。
日立 EA1000AIII 大樣品艙 臺式XRF光譜儀
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